试验桌对辐射骚扰测量的影响
关键词 辐射骚扰;试验桌;归一化场地衰减;介电常数
引言 ![]() 图1 辐射骚扰试验中台式EUT 布置 1 试验桌对场地性能的影响 EN 55022:2010 规定,辐射骚扰试验要在开阔试验场地进行。开阔试验场地应平坦、无架空电力线、附近无反射物,场地足够大,以便能在规定距离处放置天线,并使天线、受测设备和反射物体之间有足够的间隔。但是随着社会的发展,要寻找一块符合要求的理想场地十分困难,所以电波暗室作为开阔试验场的可替换场地被广泛应用。标准中规定,归一化场地衰减(简称NSA)是证明电波暗室是否能获得有效结果的关键指标。电波暗室是为模拟开阔试验场地而建造的,电波暗室的归一化场地衰减应该与开阔场地的差值小于4dB,以证明两者的相似程度。 采用归一化场地衰减试验方法验证试验桌对试验结果的影响,如图2所示。 ![]() 图2归一化场地衰减试验方法 在10m暗室无测试桌的情况下,用信号源分别通过双锥天线(频率30~250MHz)和对数天线(频率250~1000MHz)发射电磁波。用接收机和另一组双锥天线和对数天线测得一组场地衰减数据。归一化场地衰减的计算公式 AN = VT - VR - AFT - AFR - ΔAFTOT 式中:VT —— 发射天线输入电压,dBμV; VR —— 接收天线输出电压,dBμV; AFT —— 发射天线的天线系数,dB; AFR—— 接收天线的天线系数,dB; ΔAFTOT —— 互阻抗修正系数,dB(仅适用 于用偶极子天线测量、且测量距离为 3 m 时的情况, 除此之外,ΔAFTOT = 0)
表 1 双锥天线和对数天线测得的场地衰减数据
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