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[EN欧标] BS EN 62047-18-2013半导体器件--微电机器件--第18部分:薄膜材料的弯曲测试方法

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BS EN 62047-18-2013/IEC 62047-18-2013半导体器件--微电机器件--第18部分:薄膜材料的弯曲测试方法
Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 18: Bend testing methods of thin film materials
BS EN 62047-18-2013.rar (893.78 KB, 下载次数: 0)
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